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X射線衍射儀

X射線衍射分析方法可實現無損的物相定性和定量分析,而且利用衍射峰位,衍射峰強度,衍射峰線形等信息可以進行材料晶體結構的表征,如:點陣常數的精密測定,晶粒尺寸和微觀應變計算,宏觀殘余應力測定,結晶度計算等;X射線衍射分析方法是材料微觀結構表征最常規和最有效的方法之一

產品系列

X射線衍射儀 XRD-6100

配備高精度垂直型測角儀,適用于粉末、薄膜、難于固定的樣品、易溶樣品等各種樣品的測定。

X射線衍射儀 XRD-7000

配備具有0.0001°最小步進的高精度樣品水平型測角儀。根據分析目的,可以選擇適合分析大型樣品的L型...

OneSight一維高速檢測器

最新發布的島津OneSight一維高速檢測器采用硅微條探測技術,硅微條檢測器具有極高的空間和能量分辨率......

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